在找電子器件檢測機構?百檢網為您提供電子器件檢測服務,專業工程師對接確認項目、標準后制定方案,包括電子器件檢測周期、報價、樣品等,確認無誤后安排寄樣檢測,電子器件檢測常規周期3-15個工作日,歡迎咨詢。
檢測樣品:紡織品、化妝品、食品、農產品、絕緣工具、五金件等
報告資質:CNAS/CMA/CAL
報告周期:常規3-15個工作日,特殊樣品、檢測項目除外。
檢測費用:根據檢測項目收費,詳情請咨詢百檢網。
電子器件檢測項目:
SEM檢查,X射線檢查,X射線照相,內部檢查,內部目檢,剪切強度,可焊性試驗,聲學掃描顯微鏡檢查,聲學檢查,外部檢查,外部目檢,導電陽極絲試驗,封裝外部清洗,開封,彎曲試驗,掃描電子顯微技術和電子束顯微分析,扭力測試,整個器件的剖面,斷裂強度,樣品剖面制備,溶劑抵抗,潮濕敏感度測試,玻璃鈍化層完整性檢查,電分配,電子探針和X射線能譜定量分析,電子顯微技術,電遷移測試,端子強度,絕緣電阻測試,耐壓測試,耐焊接熱,錫須生長,鍵合強度,阻燃試驗,附加電氣試驗,靜電放電,預處理,芯片粘接的超聲檢測,加電溫度循環試驗,振動和掃頻試驗,溫度偏置工作壽命試驗,溫度沖擊試驗,溫度循環試驗,溫度濕度偏置循環壽命測試,鹽霧試驗,穩態濕熱偏置壽命試驗,高加速壽命試驗,高加速無偏置壽命試驗,高加速蒸煮試驗,高溫存儲壽命試驗,元素含量(鉛、鎘、鉻、鋇、硒、銻、汞、砷、鎳、鈹、鉍、銅、鐵、鎂、錳、磷、錫、鈦、鋅、鈣、銀、鋁、鈷、 鉬、 硅、鈉、鉀、硼、鎵、鈀、鋰、鉻、鍶、銫、釷、鈾),溫度濕度偏置與表面凝露循環壽命測試,密封,溫度循環,穩定性烘焙,粒子碰撞噪聲檢測試驗,老煉試驗,鹽霧,耐濕,內部目檢(單片),內部目檢(混合電路),恒定加速度,無源元件的目檢,破壞性物理分析(DPA)的內部目檢,芯片剪切強度,鍵合強度(破壞性鍵合拉力試驗),高溫電老煉,低氣壓(高空工作),溫度循環(空氣介質),熱沖擊(液體介質),穩態壽命,絕緣電阻,耐濕試驗,振動,間歇壽命,檢漏,電功率老化,X射線無損檢測,塑封器件的超聲掃描檢測,引線牢固性,機械沖擊,熱沖擊,密封-粗檢漏,密封-細檢漏,掃頻振動,低氣壓試驗,振動噪聲,振動疲勞,穩定性烘焙試驗
百檢檢測流程:
1、電話溝通、確認需求;
2、推薦方案、確認報價;
3、郵寄樣品、安排檢測;
4、進度跟蹤、結果反饋;
5、出具報告、售后服務;
6、如需加急、優先處理;
電子器件檢測標準:
1、IPC TM-650 2.6.3.1E:2007 阻焊層防潮性絕緣電阻測試試驗方法手冊
2、JESD22-A102E:2015 高加速蒸煮試驗
3、GJB548B-2005 微電子器件試驗方法和程序 方法1014.2
4、MIL-STD- 202H-2015 電子電器部件測試標準 MIL-STD-202H-2015
5、AEC-Q200-006A-2010 端子強度(SMD)-剪切應力測試
6、GJB128A-97 半導體分立器件試驗方法
7、GJB 1187A-2001 射線檢驗
8、JESD 22-A101D.01:2021 穩態濕熱偏置壽命試驗 JESD22-A101D.01:2021
9、JEDEC JESD 22-A121A-2008 錫及錫合金表面錫須生長測量 JEDEC JESD22-A121A-2008(R2014)
10、GJB548B-2005 微電子器件試驗方法和程序 方法 2019.2
11、JESD22-A113h-2016 可靠性試驗之前不密閉表面安裝設備的預處理
12、MIL-STD-883K-2018 微電路試驗方法標準 方法3015.9
13、ISO/DIS 10605 道路車輛 靜電放電引起的電干擾的試驗方法
14、IPC/JEDEC J-STD-020E:2015 非密封固態表面安裝器件的濕度/回流敏感度分類
15、JESD22-A108F:2017 溫度偏置工作壽命試驗
16、AEC Q200-001B-2010 阻燃測試
17、 JESD22-A107C:2013 鹽霧試驗
18、EIA 469E-2017 高可靠性陶瓷整體電容器破壞性物理分析的試驗方法 EIA 469E-2017
19、JESD 22-A100E:2020 溫度濕度偏置與表面凝露循環壽命測試 JESD22-A100E:2020
20、IPC TM-650 2.6.3.4A:2003 絕緣保護膜防潮性與絕緣電阻測試試驗方法手冊
一份檢測報告有什么用?
產品檢測報告主要反映了產品各項指標是否達到標準中的合格要求,能夠為企業產品研發、投標、電商平臺上架、商超入駐、學校科研提供客觀的參考。
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